Badania porównawcze stykowych pomiarów punktowych i bezstykowych skaningowych za pomocą współrzędnościowego ramienia pomiarowego

Jan Guzy

Abstract

n/a
Diploma typeMaster of Science
Author Jan Guzy
Jan Guzy,,
-
Supervisor Eugeniusz Ratajczyk WM
Eugeniusz Ratajczyk,,
- Faculty of Mechatronics
Certifying unitFaculty of Mechatronics (FM)
Affiliation unitThe Institute of Metrology and Biomedical Engineering (IMBE)
Study subject / specializationInżynieria Jakości
Languagepl polski
StatusFinished
Defense Date20-02-2013
Issue date (year)2013

Get link to the record
msginfo.png

Back