2D-System skanujący z użyciem jednego zwierciadła dla satelitarnego spektometru fourierowskiego

Bartosz Arkadiusz Kędziora

Abstract

.
Diploma typeMaster of Science
Author Bartosz Arkadiusz Kędziora
Bartosz Arkadiusz Kędziora,,
-
Supervisor Zygmunt Rymuza IMiF
Zygmunt Rymuza,,
- The Institute of Micromechanics and Photonics
Certifying unitFaculty of Mechatronics (FM)
Affiliation unitThe Institute of Micromechanics and Photonics (IMPh)
Study subject / specializationMikromechanika
Languagepl polski
StatusFinished
Defense Date27-06-2013
Issue date (year)2013
Internal identifier1596
Keywords in Polish.
Keywords in English.
Abstract in Polish.


Back