Temperature measurement system for electronic devices based on the PXI configuration for the Slow Control system at the TOF-MPD detector

Adam Kwaśnik

Abstract

n/a
Diploma typeEngineer's / Bachelor of Science
Diploma typeEngineer's thesis
Author Adam Kwaśnik (FP)
Adam Kwaśnik,,
- Faculty of Physics
Title in PolishUkład pomiaru temperatury urządzeń elektronicznych w konfiguracji PXI do systemu Slow Control dla detektora TOF-MPD
Supervisor Krystian Rosłon (FP / NPD)
Krystian Rosłon,,
- Nuclear Physics Division

Daniel Kikoła (FP / NPD)
Daniel Kikoła,,
- Nuclear Physics Division

Certifying unitFaculty of Physics (FP)
Affiliation unitNuclear Physics Division (FP / NPD)
Study subject / specializationFizyka Techniczna
Languagepl polski
StatusFinished
Defense Date18-02-2019
Issue date (year)2019
Reviewers Krystian Rosłon (FP / NPD)
Krystian Rosłon,,
- Nuclear Physics Division
, Tobiasz Czopowicz (FP / NPD)
Tobiasz Czopowicz,,
- Nuclear Physics Division
Keywords in PolishSlow Control System, TOF-MPD, NICA, ZIBJ, temperatura, przepływ ciepła, RS485, chłodzenie.
Keywords in EnglishSlow Control System, TOF-MPD, NICA, JINR, temperature, heat flux, RS485, cooling.
File
Praca_dyplomowa_Kwasnik.pdf 4.52 MB
Local fieldsIdentyfikator pracy APD: 32235

Get link to the record

Back