Knowledge base: Warsaw University of Technology

Settings and your account

Back

Research on the antireflection coating used in thermal optics

Michał Karol Popławski

Abstract

The purpose of present thesis was to design, create, and examine thin-films antireflection coating used in thermal optics systems. This type of coating are used to increase transmittance of electromagnetic radiation through optical systems. Thin-film coating was design in FTG FilmStar program, made in Leybold Optics SYRUS LC III thin-film deposition machine and measure in FT-IR spectroscope DIGITAL FTS 3000GS ESCALIBUR. Measurement showed a reduced transmittance of deposited coating. It was necessary to measure reflectance to verify correctness of deposit coating and absorption of light. To increase transmittance of antireflection coating is necessary to perform adjustment of thin-film coating. In this thesis also was perform comparison of design antireflection coating with others antireflection coating used in thermal optics systems. This thesis was made cooperation with PCO S.A. where author had access to FTG FilmStar software and mentioned specialized deposition machine and spectroscope.
Diploma type
Engineer's / Bachelor of Science
Diploma type
Engineer's thesis
Author
Michał Karol Popławski (FP) Michał Karol Popławski,, Faculty of Physics (FP)
Title in Polish
Zbadanie warstw przeciwodbiciowych stosowanych w optyce termowizyjnej
Supervisor
Maciej Sypek (FP/OPD) Maciej Sypek,, Optics and Photonics Division (FP/OPD)Faculty of Physics (FP)
Certifying unit
Faculty of Physics (FP)
Affiliation unit
Optics and Photonics Division (FP/OPD)
Study subject / specialization
, Fotonika
Language
(pl) Polish
Status
Finished
Defense Date
11-02-2016
Issue date (year)
2016
Reviewers
Maciej Sypek (FP/OPD) Maciej Sypek,, Optics and Photonics Division (FP/OPD)Faculty of Physics (FP) Jarosław Suszek (FP/OPD) Jarosław Suszek,, Optics and Photonics Division (FP/OPD)Faculty of Physics (FP)
Keywords in Polish
optyka, termowizja, cienkie warstwy, powłoka przeciwodbiciowa, próżnia, napylarka cienkich warstw, spektroskopia, transformata Fouriera
Keywords in English
optics, termography, thin-films, antireflection coating, vacuum, thin-film deposition machine, spectroscopy, Fourier transform
Abstract in Polish
Celem niniejszej pracy inżynierskiej było zaprojektowanie, wykonanie oraz zbadanie cienkowarstwowych powłok przeciwodbiciowych stosowanych w optyce termowizyjnej. Powłoki te stosowane są aby zapewnić jak najlepszą transmisję promieniowania elektromagnetycznego przez układ optyczny. Projekt powłoki przeciwodbiciowej wykonany został w programie FTG FilmStar, powłoka została wykonana przy pomocy napylarki próżniowej firmy Leybold Optics typu SYRUS LC III natomiast pomiar pokrytego elementu optycznego wykonano przy użyciu spektrofotometru fourierowskiego firmy DIGITAL typu FTS 3000GS ESCALIBUR. Pomiar powłoki wykazał niższą transmisję niż zaprojektowana, w związku z czym konieczny był dodatkowy pomiar odbicia promieniowania elektromagnetycznego od powłoki w celu zweryfikowania poprawności wykonania powłoki oraz sprawdzenie czy element z powłoką przeciwodbiciową nie wykazuje absorbcji. W celu poprawy transmisji należałoby wykonać korektę w projekcie powłoki przeciwodbiciowej oraz ponownie ją wykonać. W pracy została również porównana zaprojektowana powłoka z innymi powłokami stosowanymi w układach termowizyjnych. Praca została wykonana we współpracy z PCO S.A. gdzie autor pracy miał dostęp do oprogramowania FTG FilmStar oraz wymienionych powyżej specjalistycznych urządzeń służących do wykonania powłoki oraz pomiarów.
File
  • File: 1
    251792_Michał_Popławski_Zbadanie_warstw_przeciwodbiciowych_stosowanych_w_optyce_termowizyjnej.pdf
Request a WCAG compliant version
Local fields
Identyfikator pracy APD: 9564

Uniform Resource Identifier
https://repo.pw.edu.pl/info/bachelor/WUT530731832cde4769b5587bc5a7628ad6/
URN
urn:pw-repo:WUT530731832cde4769b5587bc5a7628ad6

Confirmation
Are you sure?
Report incorrect data on this page