Knowledge base: Warsaw University of Technology

Settings and your account

Back

Systems testing automation on embedded devices

Paweł Janusz Wieczorek

Abstract

The subject of this thesis is the problem of embedded systems and device testing automation. Concept and implementation of automated testing laboratory for embedded devices have been described. Popular tools used as testing laboratory components have been reviewed and compared. Parts that are often neglected have also been described. This allowed defining requirements for draft standard of such systems. As a result of works, a solution for power control over devices under test has been introduced. Declarative configuration description has also been prepared to simplify the process of creating new instances. This thesis also includes remarks based on maintenance of testing laboratory instance.
Diploma type
Engineer's / Bachelor of Science
Diploma type
Engineer's thesis
Author
Paweł Janusz Wieczorek (FEIT/ICS) Paweł Janusz Wieczorek,, The Institute of Computer Science (FEIT/ICS)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Title in Polish
Automatyzacja testowania systemów na urządzeniach wbudowanych
Supervisor
Piotr Gawkowski (FEIT/ICS) Piotr Gawkowski,, The Institute of Computer Science (FEIT/ICS)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Certifying unit
Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Affiliation unit
The Institute of Computer Science (FEIT/ICS)
Study subject / specialization
, Informatyka (Computer Science)
Language
(pl) Polish
Status
Finished
Defense Date
24-09-2019
Issue date (year)
2019
Internal identifier
111/19 (2704)
Reviewers
Jacek Wytrębowicz (FEIT/ICS) Jacek Wytrębowicz,, The Institute of Computer Science (FEIT/ICS)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT) Piotr Gawkowski (FEIT/ICS) Piotr Gawkowski,, The Institute of Computer Science (FEIT/ICS)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Keywords in Polish
automatyzacja, testowanie, systemy wbudowane
Keywords in English
testing, automation, embedded systems
Abstract in Polish
Praca poświęcona jest problemowi automatyzacji testowania systemów i urządzeń wbudowanych. W szczególności opisano koncepcję i implementację zautomatyzowanego laboratorium testowego dla urządzeń wbudowanych oraz przedstawiono i porównano popularne narzędzia wykorzystywane jako komponenty laboratorium testowego. Opisano również elementy, które bywają zaniedbywane w przedsięwzięciach tego typu. W efekcie prac przygotowano autorskie rozwiązanie kwestii sterowania zasilaniem urządzeń docelowych w laboratorium. Przygotowano również deklaratywny opis konfiguracji laboratorium dla uproszczenia tworzenia jego nowych instancji. Praca zawiera także spostrzeżenia poczynione na podstawie utrzymywania instancji laboratorium testowego.
File
  • File: 1
    Automatyzacja_testowania_systemów_na_urządzeniach_wbudowanych.pdf
Request a WCAG compliant version
Local fields
Identyfikator pracy APD: 35970

Uniform Resource Identifier
https://repo.pw.edu.pl/info/bachelor/WUT47054da159cb4b03ba02ac16b11932e5/
URN
urn:pw-repo:WUT47054da159cb4b03ba02ac16b11932e5

Confirmation
Are you sure?
Report incorrect data on this page