Knowledge base: Warsaw University of Technology

Settings and your account

Back

Preparation of automated setup for measurements of nonlinear properties of microwave devices

Arkadiusz Stefan Kalinowski

Abstract

The aim of the work was to design and prepare a measuring system nonlinear distortions measurement: 3rd order distortions and harmonic distortions. For this purpose, two generators and spectrum analyzer were used. Additionally, software that communicates with devices using the GPIB interface (IEEE-488.2) has been designed. The application has been prepared in such a way that it can be combined with any measuring device of the same type. It sets appropriate parameters for devices, controls their functions and reads the power and frequency values measured by the spectrum analyzer. The work presents the characterization of non-linear distortions. Systems for non-linear distortions measurement are described and compared. The following chapters describe the workflow on the project task. Various programming environments were compared, and various communication interfaces used in measurement systems were described. The proposed measurement procedures and the design of the application are presented.
Diploma type
Engineer's / Bachelor of Science
Diploma type
Engineer's thesis
Author
Arkadiusz Stefan Kalinowski (FEIT/MO) Arkadiusz Stefan Kalinowski,, The Institute of Microelectronics and Optoelectronics (FEIT/MO)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Title in Polish
Przygotowanie stanowiska do zautomatyzowanych pomiarów nieliniowych własności przyrządów mikrofalowych
Supervisor
Krzysztof Michał Madziar (FEIT/MO) Krzysztof Michał Madziar,, The Institute of Microelectronics and Optoelectronics (FEIT/MO)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Certifying unit
Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Affiliation unit
The Institute of Microelectronics and Optoelectronics (FEIT/MO)
Study subject / specialization
, Elektronika (Elektronics)
Language
(pl) Polish
Status
Finished
Defense Date
08-02-2019
Issue date (year)
2019
Reviewers
Krzysztof Michał Madziar (FEIT/MO) Krzysztof Michał Madziar,, The Institute of Microelectronics and Optoelectronics (FEIT/MO)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT) Krzysztof Siwiec (FEIT/MO) Krzysztof Siwiec,, The Institute of Microelectronics and Optoelectronics (FEIT/MO)Faculty of Electronics and Information Technology (FEIT)
Keywords in Polish
system pomiarowy, intermodulacje, harmoniczne, Matlab, GPIB, mikrofale
Keywords in English
measurning system, intermodulation, harmonics, Matlab, GPIB, microwave
Abstract in Polish
Celem pracy było zaprojektowanie i przygotowanie stanowiska pomiarowego do pomiaru zniekształceń nieliniowych: intermodulacyjnych 3. rzędu oraz harmonicznych sygnału mikrofalowego. Stanowisko pomiarowe składa się z dwóch generatorów oraz analizatora widma. Zaprojektowano program komputerowy, który komunikuje się z urządzeniami z wykorzystaniem interfejsu GPIB (IEEE-488.2). Aplikacja została przygotowana w taki sposób, aby umożliwiała sterowanie urządzeniami pomiarowymi różnych typów i producentów. Zadaje ona odpowiednie parametry urządzeniom, steruje ich funkcjami oraz odczytuje zmierzone przez analizator widma wartości mocy i częstotliwości. W pracy przestawiono charakteryzację zniekształceń nieliniowych, opisano układy pomiarowe służące ich badaniu oraz porównano je. Kolejne rozdziały opisują przebieg pracy nad zadaniem projektowym. Porównano ze sobą różne środowiska programistyczne i style oprogramowywania systemów pomiarowych oraz opisano różne interfejsy komunikacyjne wykorzystywane w systemach pomiarowych. Opisano zaproponowane procedury pomiarowe oraz budowę aplikacji.
File
  • File: 1
    Arkadiusz_Kalinowski_-_praca_inż.pdf
Request a WCAG compliant version
Local fields
Identyfikator pracy APD: 32113

Uniform Resource Identifier
https://repo.pw.edu.pl/info/bachelor/WUT4509c49316bc47d4bced1ee9d7867a92/
URN
urn:pw-repo:WUT4509c49316bc47d4bced1ee9d7867a92

Confirmation
Are you sure?
Report incorrect data on this page