Rozpoznawanie uszkodzeń podwójnych w układach liniowych

Jan Maciej Kościelny , Zofia Łabęda-Grudziak

Abstract

Praca zawiera analizę możliwości rozpoznawania uszkodzeń podwójnych dla układów liniowych za pomocą metody residuów kierunkowych, przy czym wykorzystywana jest zarówno postać obliczeniowa jak też wewnętrzna residuów. Lokalizacja uszkodzeń podwójnych następuje na podstawie oceny komplanarności wektora residuów z parą wektorów kierunkowych poszczególnych uszkodzeń, które wyznaczają odpowiednią płaszczyznę w trójwymiarowej przestrzeni parzystości. Omówiono również metodę zwiększania rozróżnialności uszkodzeń podwójnych polegającą na projektowaniu residuów wtórnych. Przedstawioną metodologię zilustrowano przykładem obliczeniowym.
Author Jan Maciej Kościelny (FM / IACR)
Jan Maciej Kościelny,,
- The Institute of Automatic Control and Robotics
, Zofia Łabęda-Grudziak (FM / IACR)
Zofia Łabęda-Grudziak,,
- The Institute of Automatic Control and Robotics
Pages202-210
Publication size in sheets0.5
Book X Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna Diagnostyka Procesów i Systemów – materiały konferencyjne, 2011, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej
Keywords in Polishlokalizacja uszkodzeń, uszkodzenia podwójne, rozróżnialność uszkodzeń, residua, układy liniowe
Languagepl polski
Score (nominal)0
Citation count*
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?