Diagnosing Multiple Faults with the Dynamic Binary Matrix

Michał Bartyś

Abstract

This paper presents the underlying theory of diagnosing multiple faults with the binary dynamic diagnostic matrix. The fundamental statements regarding inconsistency and multiple fault isolation with the dynamic binary diagnostic matrices are formulated and proved. Finally, an algorithm of multiple fault isolation is presented.
Author Michał Bartyś (FM / IACR)
Michał Bartyś,,
- The Institute of Automatic Control and Robotics
Journal seriesIFAC-PapersOnLine, ISSN 2405-8963, (0 pkt)
Issue year2015
Vol48
No21
Pages1297-1302
Publication size in sheets60.25
Conference9th IFAC Symposium on Fault Detection, Supervision and Safety for Technical Processes SAFEPROCESS, 02-09-2015 - 04-09-2015, Paris, Francja
Keywords in Polishdynamiczna binarna macierz diagnostyczna, lokalizacja uszkodzeń wielokrotnych, diagnostyka uszkodzeń, niespójność dynamicznej macierzy diagnostycznej, wnioskowanie diagnostyczne, algorytm lokalizacji uszkodzeń wielokrotnych
Keywords in Englishdynamic binary diagnostic matrix, multiple fault isolation, fault diagnosis, inconsistency of dynamic diagnostic matrix, diagnostic inference, multiple fault isolation algorithm
Abstract in PolishW pracy przedstawiono elementy teorii diagnozowania uszkodzeń wielokrotnych bazujących na binarnej macierzy diagnostycznej. Przedstawiono dowody fundamentalnych twierdzeń dotyczących metod lokalizacji uszkodzeń z binarną macierzą diagnostyczną. Zaprezentowano również nowy algorytm lokalizacji uszkodzeń wielokrotnych bazujący na przedstawionej teorii.
DOIDOI:10.1016/j.ifacol.2015.09.704
URL http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2405896315018339
Languageen angielski
Score (nominal)15
ScoreMinisterial score = 15.0, 28-11-2017, ArticleFromJournalAndMatConf
Ministerial score (2013-2016) = 15.0, 28-11-2017, ArticleFromJournalAndMatConf
Citation count*
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back