Artykuł z czasopisma
We report a surfactant-free exfoliation method of WS2 flakes combined with a vacuum filtration method to fabricate thin (<50 nm) WS2 films, that can be transferred on any arbitrary substrate. Films are composed of thin (<4 nm) single flakes, forming a large size uniform film, verified by AFM and SEM. Using statistical phonons investigation, we demonstrate structural quality and uniformity of the film sample and we provide first-order temperature coefficient χ, which shows linear dependence over 300–450 K temperature range. Electrical measurements show film sheet resistance RS = 48 MΩ/ and also reveal two energy band gaps related to the intrinsic architecture of the thin film. Finally, we show that optical transmission/absorption is rich above the bandgap exhibiting several excitonic resonances, and nearly feature-less below the bandgap.
- Identyfikator pozycji
- WUTc40491987656494d98d2d2384f782445
- Autor
- Tytuł czasopisma/serii
- Materials, ISSN , e-ISSN 1996-1944, Biweekly
- Rok wydania
- 2020
- Tom
- 13
- Nr
- 23
- Paginacja
- 1-9
- Objętość publikacji w arkuszach wydawniczych
- 0,50
- Numer artykułu
- 5315
- Klasyfikacja ASJC
- DOI
- Przejdź do dokumentu po identyfikatorze cyfrowym DOI:10.3390/ma13235315 Otwiera się w nowej karcie
- URL
- https://www.mdpi.com/1996-1944/13/23/5315 Otwiera się w nowej karcie
- Język publikacji
- (en) angielski
- Licencja
- Plik
-
- Plik: 1
- Study of structural and optoelectronic properties of thin films made of a few layered ws<inf>2</inf> flakes, Plik WUTc40491987656494d98d2d2384f782445.pdf / 2 MB
- WUTc40491987656494d98d2d2384f782445.pdf
- dostępny od: 14-01-2021
- Study of structural and optoelectronic properties of thin films made of a few layered ws<inf>2</inf> flakes, Plik WUTc40491987656494d98d2d2384f782445.pdf / 2 MB
-
- Punktacja ministerialna (całkowita)
- 140
- Źródło punktacji
- journalList
- Punktacja
- = 140.0, 23-04-2025, ArticleFromJournal
- Wskaźniki bibliometryczne
- Jednolity identyfikator zasobu
- https://repo.pw.edu.pl/info/article/WUTc40491987656494d98d2d2384f782445/
- URN
urn:pw-repo:WUTc40491987656494d98d2d2384f782445
* Podana liczba cytowań wynika z analizy informacji dostępnych w Internecie i jest zbliżona do wartości obliczanej przy pomocy systemu Publish or PerishOtwiera się w nowej karcie.