Surface shape measurement of specular objects using laser deflectometry

Jakub Michoński , Krzysztof Mularczyk , Robert Sitnik

Abstract

This paper presents a surface shape measurement system based on laser deflectometry. System’s design aims at application in documentation of objects of cultural heritage. The system is composed of a semiconductor laser, a CCD camera and imaging optics. The principle of measurement involves ray tracing of the laser beam calculated from two positions of the detector along the optical axis to determine the angle of inclination of the measured surface. The object is scanned with the designed system and resulting surface normal vectors are integrated to form the output surface. Exemplary measurement results are presented and discussed.
Author Jakub Michoński (FM / IMPh)
Jakub Michoński,,
- The Institute of Micromechanics and Photonics
, Krzysztof Mularczyk (FM / IMPh)
Krzysztof Mularczyk,,
- The Institute of Micromechanics and Photonics
, Robert Sitnik (FM / IMPh)
Robert Sitnik,,
- The Institute of Micromechanics and Photonics
Pages1-7
Publication size in sheets0.5
Book Romaniuk Ryszard (eds.): Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments 2013, vol. 8903, 2013, SPIE P.O. Box 10, Bellingham, Washington 98227-0010 USA , SPIE, ISBN 9780819497857, [ISSN 0277-786X ], 410 p., DOI:10.1117/12.2049644
Keywords in PolishDeflektometria laserowa, pomiar kształtu powierzchni, 3D, system pomiarowy
Keywords in EnglishLaser deflectometry, surface shape measurement, 3D, measurement system
Abstract in PolishArtykuł przedstawia system pomiarowy do pomiaru kształtu powierzchni zbudowany w oparciu o deflektometrię laserową. System został zaprojektowany z myślą o dokumentacji obiektów dziedzictwa kulturowego. System pomiarowy złożony jest z lasera półprzewodnikowego, kamery CCD oraz optyki obrazującej. Główną zasadą działania jest śledzenie promienia wiązki lasera na podstawie dwóch pozycji detektora wzdłuż osi optycznej, co pozwala na wyznaczenie lokalnego kąta nachylenia powierzchni mierzonej. Obiekt jest skanowany z użyciem zbudowanego układu i otrzymane dane są całkowane w celu otrzymania kształtu powierzchni mierzonej. W pracy przedstawione i omówione są przykładowe pomiary.
DOIDOI:10.1117/12.2031718
URL http://proceedings.spiedigitallibrary.org/proceeding.aspx?articleid=1763101
Languageen angielski
Score (nominal)15
Score sourceconferenceIndex
ScoreMinisterial score = 10.0, 29-08-2020, BookChapterMatConfByIndicator
Ministerial score (2013-2016) = 15.0, 29-08-2020, BookChapterMatConfByIndicator
Publication indicators WoS Citations = 0; Scopus Citations = 0; GS Citations = 1.0
Citation count*1 (2020-09-19)
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?