Właściwości testera mikroprocesorowego CMC ujawniające się podczas specyficzynch testów funkcji różnicowe

Ryszard Kowalik , Marcin Januszewski , Kamil Gontarz

Abstract

n/a
Author Ryszard Kowalik (FoEE / IEPE)
Ryszard Kowalik,,
- The Institute of Electrical Power Engineering
, Marcin Januszewski (FoEE / IEPE)
Marcin Januszewski,,
- The Institute of Electrical Power Engineering
, Kamil Gontarz (FoEE / IEPE)
Kamil Gontarz,,
- The Institute of Electrical Power Engineering
Pages49 - 58
Book Jubileuszowa XV Międzynarodowa Konferencja Naukowa „Aktualne Problemy w Elektroenergetyce”, APE’11, 2011
Not used for evaluationyes
Score (nominal)0
Citation count*
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?