Charakteryzacja przestrajalnych filtrów ciekłokrystalicznych dla potrzeb systemów wizyjnych

Piotr Garbat , Marek Sutkowski , Jerzy Woźnicki , Janusz Parka , Edward Nowinowski-Kruszelnicki , Jerzy Domański

Abstract

W ramach pracy przedstawiono metodykę charakteryzacji przetworników ciekłokrystalicznych dla potrzeb systemow wizyjnych. Zgodnie z opracowaną metodyką przeprowadzono badania przestrajalnych �filtrów ciekłokrystalicznych o przestrzennym rozkładzie transmisji oraz analizę wpływu poszczególnych parametrów na jakość rejestracji obrazów oraz końcowej rekonstrukcji kształtu obserwowanych obiektów. W publikacji przedstawiona została metoda pozyskiwania informacji o parametrach polaryzacji światła z wykorzystaniem f�iltrów ciekłokrystalicznych o przestrzennym rozkładzie funkcji transmisji �filtra zależnej od stanu polaryzacji.
Author Piotr Garbat (FEIT / MO)
Piotr Garbat,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Marek Sutkowski (FEIT / MO)
Marek Sutkowski,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Jerzy Woźnicki (FEIT / MO)
Jerzy Woźnicki,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Janusz Parka (FEIT / MO)
Janusz Parka,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Edward Nowinowski-Kruszelnicki
Edward Nowinowski-Kruszelnicki,,
-
, Jerzy Domański (FEIT / MO)
Jerzy Domański,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
Pages269-270
Publication size in sheets0.3
Book Kisiel Ryszard (eds.): XI Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa, ELTE '2013, 2013, ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa, Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki, ISBN 978-83-64102-00-4, 476 p.
URL http://elte.imio.pw.edu.pl/files/program_szczegolowy_elte2013.pdf
Languagepl polski
Score (nominal)15
ScoreMinisterial score = 10.0, 25-09-2019, BookChapterMatConfByIndicator
Ministerial score (2013-2016) = 15.0, 25-09-2019, BookChapterMatConfByIndicator
Citation count*
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?