Kompensacja wpływu rozrzutów produkcyjnych na parametry układów analogowych realizowanych w technologiach nanometrycznych

Zbigniew Jaworski , Piotr Wysokiński , Narożnik Piotr

Abstract

Paradoksalnie postęp technologiczny powoduje, że parametry bloków analogowych realizowanych w technologiach nanometrowych są gorsze niż w przypadku układów implementowanych w procesach starszych generacji. W pracy przedstawione zostały wyniki badań nad aktywnymi metodami kompensacji rozrzutów produkcyjnych na przykładzie wybranych analogowych bloków funkcjonalnych.
Author Zbigniew Jaworski (FEIT / MO)
Zbigniew Jaworski,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Piotr Wysokiński (FEIT / MO)
Piotr Wysokiński,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Narożnik Piotr
Narożnik Piotr,,
-
Pages153-154
Book Kisiel Ryszard (eds.): XI Konferencja Naukowa Technologia Elektronowa, ELTE '2013, 2013, ul. Koszykowa 75, 00-662 Warszawa, Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki, ISBN 978-83-64102-00-4, 476 p.
URL http://elte.imio.pw.edu.pl/files/program_szczegolowy_elte2013.pdf
Languagepl polski
Score (nominal)15
ScoreMinisterial score = 10.0, 25-09-2019, BookChapterMatConfByIndicator
Ministerial score (2013-2016) = 15.0, 25-09-2019, BookChapterMatConfByIndicator
Citation count*
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?