Pomiary elektromagnetycznych właściwości metamateriałów planarnych i grafenu w paśmie częstotliwości mikrofalowych

Jerzy Krupka , Włodzimierz Strupiński , Andrzej Krzysztof Stefański , Mikołaj Baszun , Zdzisław Mączeński

Abstract

n/a
Author Jerzy Krupka (FEIT / MO)
Jerzy Krupka,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Włodzimierz Strupiński
Włodzimierz Strupiński,,
-
, Andrzej Krzysztof Stefański (FEIT / MO)
Andrzej Krzysztof Stefański,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Mikołaj Baszun (FEIT / MO)
Mikołaj Baszun,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
, Zdzisław Mączeński (FEIT / MO)
Zdzisław Mączeński,,
- The Institute of Microelectronics and Optoelectronics
Journal seriesElektronika- konstrukcje, technologie, zastosowania, ISSN 0033 - 2089, [], (B 6 pkt)
Issue year2011
Vol0
No2
Pages65-69
URL http://www.sigma-not.pl
Languagepl polski
Score (nominal)6
Score sourcejournalList
Citation count*1 (2015-05-02)
Cite
Share Share

Get link to the record


* presented citation count is obtained through Internet information analysis and it is close to the number calculated by the Publish or Perish system.
Back
Confirmation
Are you sure?